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Infineon 发布技术论文：为航天任务按需匹配 NewSpace 级 NOR Flash 可靠性
EE Times 刊出 Infineon Technologies 的技术论文摘要，讨论总电离剂量（TID）与单粒子效应（SEE）如何使 NOR Flash 退化，重点关注常先于存储阵列失效的电荷泵、灵敏放大器与控制逻辑。
信源原题：NewSpace-Grade NOR Flash: Right-Sized Reliability for Space Missions
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