温室研究显示高光谱成像可提前识别大豆病害，田间验证尚未完成

美国北达科他州立大学团队在温室播种大豆12天后，用高光谱成像区分猝死综合征病株与健康株，称可在症状肉眼可见前数日至约一周识别光谱差异；该结果尚未在田间验证。研究负责人Xin Sun提出筛选关键波段，用4—10波段多光谱相机替代高价高光谱设备以降低成本。比利时imec称可在晶圆级把光谱滤光片与探测器集成，开发9、16、25波段标准化快照传感器；SWIR探测器成本与集成难度仍较高。

信源原题：Can Machines See a Sick Plant Before a Farmer Can?

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